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Un nouveau système pour l’analyse en ligne de faisceaux X au synchrotron

Faits marquants

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le 24 avril 2015 /

Un dispositif de détection de rayons X par scintillation avec une bonne efficacité dans l'imagerie de haute résolution sur rayonnement synchrotron et une résolution temporelle de 50 ans vient d'être présenté.

Antonio Pereira (équipe Films minces), Christophe Dujardin (équipe Luminescence) et Mariana Levinta (stage NSE), en collaboration avec l’ESRF viennent de publier l’article « Low-absorption, multi-layered scintillating material for high resolution real-time X-ray beam analysis » dans la revue Journal of Material Chemistry C.
Les synchrotrons proposent des expériences uniques permettant l’analyse de la matière. Une des grandes limitations actuelle est la correction des fluctuations du faisceau X d’analyse en terme de position, d’intensité et de profil. En utilisant le dépôt par ablation laser sur une membrane poreuse, les auteurs ont réalisé un écran multicouche qui permet de satisfaire les trois critères majeurs de qualité: une bonne transparence aux rayons X et une bonne efficacité, en général antagonistes, ainsi qu’une grande capacité à l’imagerie haute résolution. Ce système permet maintenant l’analyse en ligne des paramètres de faisceaux avec l’obtention d’image toutes les 50ms.


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